日本Otsuka大塚電子QE-2100量子測量系統-成都藤田科技提供

產品信息

• 量子效率（量子產率）可以瞬時測量

• 可以去除重新激發的熒光發射

• 集成半球單元實現明亮的光學系統

• 使用低雜散光多通道分光光度探測器大大減少了紫外區域的雜散光。

• 溫度控制功能 （50~300°C） 可實現與溫度相關的量子效率（量子產率）測量

• 兼容紫外到近紅外寬帶 （300~1600nm） 規格

• 使用專用軟件輕松作

• 易于安裝和拆卸樣品測量池

• 節省空間且設計緊湊

• 通過使用光譜儀型激發光源，可以選擇任意波長。

• 可以在軟件中激發波長和步長值的自動測量

• 與粉末、溶液、固體（薄膜）和薄膜樣品兼容

• 廣泛的分析功能

• 量子效率（量子產率）測量

• 激發波長依賴性測量

• 發射光譜測量

• PL 激發光譜測量

• EEM（激發發射矩陣）測量

• 測量 LED 和有機 EL 熒光粉的量子效率（量子產率）

• 測量薄膜狀樣品
  的透射熒光和反射熒光的量子效率（量子產率），例如用于遠程熒光粉的熒光粉樣品

• 量子點、熒光探針、生物場、包合物等的熒光測量

• 染料敏化太陽能電池量子效率（量子產率）的測量

• 復雜化合物的測定

QE-2100 配備了一個積分半球。 與積分球（球形）相比，積分半球具有以下特點

• 由于非發光部件（支架等）可以暴露在外部，因此可以保持較小的自吸收，從而實現理想的光學系統

• 鏡子在同一點將照度加倍，從而實現高靈敏度測量。

• 樣品測量池易于安裝和拆卸，損壞積分球內部的風險很小。

在包含重激發熒光發射的狀態下，觀察的不是材料本身的物理性質，而是器件的特性，無法確定真正的物理性質值。 QE-2100 使用重激發熒光校正，利用積分半球的優勢進行簡單準確的測量。

常規探測器（多色儀）在紫外區域檢測到高水平雜散光，因此不適合測量量子效率（量子產率）。 大冢電子通過開發一種去除雜散光的技術解決了這個問題。 QE-2100 中安裝的多通道分光光度探測器與我們的傳統產品相比，雜散光量約為 1/5，即使在紫外線區域也能實現高精度測量。

日本Otsuka大塚電子QE-2100量子測量系統-成都藤田科技提供