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Otsuka大塚 分光測量（在線式）掃描膜厚儀-成都藤田科技提供 采用線掃描方式檢測整面薄膜 硬件軟件均為創新設計 作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援 實現高精度測量實現高速測量 不受偏差影響 可對應寬幅樣...

日本Otsuka大塚GP series分光配光測量系統-成都藤田科技提供 特點： 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測量， 對應CIE推薦的寬波長范圍（355 nm至835 nm） 光學系統降低了...

Otsuka大塚PET膜厚（在線式）掃描膜厚儀-成都藤田科技提供 采用線掃描方式檢測整面薄膜 硬件軟件均為創新設計 作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援 實現高精度測量實現高速測量 不受偏差影響 可對應寬幅樣...

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Otsuka大塚覆膜專用（在線式）掃描膜厚儀-成都藤田科技提供 采用線掃描方式檢測整面薄膜 硬件軟件均為創新設計 作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援 實現高精度測量實現高速測量 不受偏差影響 可對應寬幅樣...

Otsuka大塚薄膜寬幅掃描膜厚儀（在線式）-成都藤田科技提供 采用線掃描方式檢測整面薄膜 硬件軟件均為創新設計 作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援 實現高精度測量實現高速測量 不受偏差影響 可對應寬幅樣...