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Otsuka大塚整面薄膜掃描膜厚儀（在線式）-成都藤田科技提供 采用線掃描方式檢測整面薄膜 硬件軟件均為創新設計 作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援 實現高精度測量實現高速測量 不受偏差影響 可對應寬幅樣...

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日本Otsuka大塚電子SM-100涂層測厚儀-成都藤田科技提供 “便攜式手持型”重量僅為 1.1 公斤，易于攜帶 “高精度測量和簡單測量” 無需校準曲線即可測量低至 0.1 μm 的測量 “兼容多層薄膜” 最多可測量 3 層多層薄膜 “無損、非接觸式測量”測量，不損壞樣品 “測量各種樣品” 無論基材（玻璃或塑料）如何，都可以進行測量

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