日本Otsuka大塚LC Fseries彩色濾光片測量-成都藤田科技提供
產(chǎn)品信息特點以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置可用于彩色濾光片的光學(xué)特性或玻璃基板...

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-02-21

廠商性質(zhì)：代理商

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服務(wù)熱線

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

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產(chǎn)品介紹

日本Otsuka大塚LC Fseries彩色濾光片測量-成都藤田科技提供

日本Otsuka大塚LC Fseries彩色濾光片測量

產(chǎn)品信息

特點

以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置

可用于彩色濾光片的光學(xué)特性或玻璃基板上膜的薄膜解析等各類評價

通過自動對焦功能和自動繪素位置相結(jié)合，測量精度高，登陸recipe實現(xiàn)全自動檢查

測量項目

*選配功能

測量對象

R, G, B, ITO, PI, PR, OC, BM

產(chǎn)品規(guī)格

型號	LCF series
樣品尺寸	50mm x 50mm ～*
檢出器	分光光度計 ( MCPD檢出器 )，PMT （option）
圖像處理	CCD相機及monitor 自動對焦、結(jié)合自動繪畫素機構(gòu)
Stage及測量部支架	X-Y-Zstage自動及手動（電動方式）

* 也可用于大型玻璃基板（3000mm x 3000mm以上）

測量例

彩色濾光片R、G、B測量

日本Otsuka大塚LC Fseries彩色濾光片測量

核心特點：

微區(qū)測量能力：最小光斑直徑3μm，搭配自動XY平臺（200×200mm），實現(xiàn)晶圓、FPD（如OLED、ITO膜）等微小區(qū)域的精準厚度分布映射。
跨行業(yè)適用性：專為半導(dǎo)體（SiO?/SiN膜）、顯示面板（彩色光阻）、DLC涂層等行業(yè)設(shè)計，支持粗糙表面、傾斜結(jié)構(gòu)及復(fù)雜光學(xué)異向性樣品的分析。
安全與擴展性：區(qū)域傳感器觸發(fā)防誤觸機制，獨立測量頭支持定制化嵌入，滿足在線檢測（inline）與實驗室研發(fā)需求。

日本Otsuka大塚LC Fseries彩色濾光片測量-成都藤田科技提供